dragonhd綠色版是不需要安裝即可使用的電腦硬件檢測(cè)工具，界面整潔干凈，測(cè)試時(shí)間段，操作起來(lái)高效又便捷，能夠設(shè)置DDR clk頻率，顯示設(shè)備測(cè)試進(jìn)度，測(cè)試狀態(tài)，測(cè)試結(jié)果等信息，功能非常強(qiáng)大。有需要的朋友快來(lái)下載吧！

dragonhd硬件檢測(cè)工具簡(jiǎn)介：

這是一款電腦系統(tǒng)硬件檢測(cè)工具，能偶快速對(duì)你的電腦硬件進(jìn)行檢測(cè)、診斷等多個(gè)功能，DragonHD多平臺(tái)通用，pcba裸板通過(guò)usb連接pc進(jìn)入測(cè)試，每臺(tái)設(shè)備可單獨(dú)輸出log，定位為診斷、連通性測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試工具，歡迎有興趣的朋友下載使用。

dragonhd最新版特點(diǎn)：

1、測(cè)試便捷：裸板連接 USB 即可測(cè)試。

2、測(cè)試時(shí)間短：1MIN 可測(cè)試完一個(gè) loop，可迅速測(cè)試出穩(wěn)定性一般的 case(這些 case 上系統(tǒng)老化測(cè)試可能需要幾小時(shí)才能 detect 出)。

3、快速定位硬件連通性：能快速定位焊接不良的顆粒(如 4*8 的顆粒可定位到具體某顆焊接不良)。

4、調(diào)試問(wèn)題便捷：對(duì) DRAM 不穩(wěn)定的板卡，工具端迭代修改參數(shù)測(cè)試，較上系統(tǒng)驗(yàn)證節(jié)省 90%的時(shí)間(上案桌系統(tǒng)修改參數(shù)驗(yàn)證一輪短則 10 分鐘長(zhǎng)則幾小時(shí)，工具端不到 3 分鐘)。

使用步驟：

1、在極光下載站下載dragonhd最新版軟件包，解壓dragonhd軟件，運(yùn)行文件

2、雙擊打開(kāi),進(jìn)入dragonhd軟件界面

3、此軟件為綠色版，無(wú)需安裝即可使用

軟件功能：

打開(kāi)工具后，界面可分為4個(gè)區(qū)域

1、軟件功能區(qū)，包含的操作包含打開(kāi)配置模版，保存配置模板，更新升級(jí)，退出dragonhd免費(fèi)版軟件。

2、操作區(qū)，工具的基本操作包含設(shè)置DDR clk頻率，設(shè)置循環(huán)次數(shù)和啟動(dòng)/停止測(cè)試。

3、測(cè)試信息區(qū)，該區(qū)域顯示設(shè)備測(cè)試進(jìn)度，測(cè)試狀態(tài)，測(cè)試結(jié)果和過(guò)程日志信息。

4、平臺(tái)用例區(qū)，選擇平臺(tái)后該區(qū)域顯示選定平臺(tái)的所有用例，用戶可屏開(kāi)，收縮和勾選需要測(cè)試的用例。

勾選平臺(tái)/用例：點(diǎn)擊平臺(tái)下拉選擇框選定要測(cè)試的設(shè)備平臺(tái)，平臺(tái)用例區(qū)將顯示選定平臺(tái)的所有用例，用戶勾選所需測(cè)試的用例后，點(diǎn)擊“啟動(dòng)”按鈕工具即進(jìn)入設(shè)備檢測(cè)狀態(tài)。

相關(guān)說(shuō)明：

插拔設(shè)備

工具進(jìn)入設(shè)備檢測(cè)狀態(tài)后即可插入待測(cè)試設(shè)備，樣機(jī)按量產(chǎn)方法使設(shè)備進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)，運(yùn)行前必須不能同時(shí)運(yùn)行其他燒錄工具phoenixsuit。首次使用的USB接口將會(huì)被記錄關(guān)聯(lián)，最多關(guān)聯(lián)16個(gè)USB接口，用戶必須在USB接口首次關(guān)聯(lián)后記下USB口與設(shè)備號(hào)的關(guān)聯(lián)ID，并在USB接口標(biāo)記該ID號(hào)，如下圖插入設(shè)備后被關(guān)聯(lián)的設(shè)備ID為1(設(shè)備1的顯示由灰變黑)，即在該USB接口貼上標(biāo)號(hào)：1。此后從此USB接口插入的設(shè)備信息都將記錄在“設(shè)備1”一行。

注：USB接口的關(guān)聯(lián)與機(jī)器相關(guān)，如需將工具打包發(fā)送或者需要清空關(guān)聯(lián)信息重新關(guān)聯(lián)，請(qǐng)退出工具并刪除工具目錄下名為fels. bin的文件。

使用說(shuō)明：

因?yàn)闇y(cè)試時(shí)間短無(wú)法 cover 到所有不穩(wěn)定的 case，這些 case 可能需長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試才能暴露問(wèn)題，所以本工具不能代替 DRAM 老化測(cè)試。工具主要測(cè)試的是 DRAM 的 IO 性能，對(duì) DRAM 內(nèi)部 CELL 的物理特性測(cè)試有一定局限性(這部分測(cè)試主要靠 DRAM 原廠保證)，所以測(cè)試工具如作為黑片篩選有一定風(fēng)險(xiǎn)。